X-射线单晶衍射仪

技术参数
1、X光源：Mo ,Cu双光源系统
2、探测器：CMOS探测器                
3、测角仪：固定κ轴的3轴测角仪   
4、软件：使用图形用户界面的单晶帧数据获取和成像软件；面探测器数据收集整体方案最优化组织软件；SHELXTL结构解析和精修软件。 
5、液氮低温系统：温度控制范围：90K ~ 400K；控温精度：+/– 0.1 K
6、循环水冷系统：水温、水压与流量满足发生器要求，有过热保护，能连续工作，控温精度优于2 K。
测试范围
    检测主要内容为样品中原子的排列及空间分布状态，从而得到分子几何构型及其空间排列等相关信息。
样本检测注意事项
    检测对象为结晶态的单晶体样品

    样品大小约为0.3mmX0.3mmX0.3mm。
所属单位
    分析测试中心
放置地点
    工业生态楼107
负责人
    马宏伟  

    闫丽
联系方式
   电话： 136-9949-6771  

            135-8179-6538        
   邮箱： hwma@bit.edu.cn   

           626828807@qq.com
收费标准

     校内：常温：100元/小时   低温：120元/小时

     校外：常温：150元/小时   低温：170元/小时

备注
    请自备耗材，低温测试自备液氮，若中心提供液氮，按实际消耗量以5元/升收取费用