JEOL JEM-2100高分辨透射电子显微镜

主要设备及功能
      JEM-2100 是日本JEOL公司制造的高分辨率分析电子显微镜。LaB₆灯丝，加速电压200kV，点分辨率0.23 nm，线分辨率0.14 nm。放大倍数50-1,500,000X，可进行纳米材料形貌观察、高分辨率图像采集、微区能谱分析、电子衍射晶体结构分析等。

检测对象及主要内容
     主要检测对象为金属、矿物、半导体、超导体、无机化合物等固体纳米材料。
     检测内容包括：样品的形貌，晶体结构及元素组成，含质厚衬度像、明场衍射衬像、暗场衍射衬像、晶体条纹像、电子衍射图像、能谱等。
主要应用领域
     物理学、化学、生物学、材料科学、矿物学、地质、选矿、冶金工程等领域
所属单位
     分析测试中心
放置地点
    工业生态楼D111

负责人
    张芳
联系方式
    电话：135-2018-6557             
    邮箱：00258104@bit.edu.cn
收费标准

      校内：300元/小时

      校外：400元/小时

备注
     超薄碳膜20元/样
     普通碳膜5元/样
     光盘5元/张