岩石样品扫描电子显微镜分析

场发射扫描电镜分析研究储层结构，评价储层质量。它可以对储集岩的矿物成分、结构构造、孔隙类型及成因、胶结程度和序列及次生变化作深入系统的研究，对储层孔隙结构的影响因素进行分析，并对储层优劣提供评价。并且对于非常规领域的致密砂岩、泥页岩等，场发射扫描电镜能够识别其内部纳米级的孔隙和裂缝。前处理使用氩离子抛光装置，可以获得平滑的截面，而不会对样品造成机械损害。岩石或微孔隙样品经过氩离子束抛光后，结合扫描电镜(SEM)、X-衍射仪等可以进行矿物成分、结构及孔隙分布等分析，且可以观察页岩中的储层结构、定量统计储层孔隙，确定孔隙度等。