表面形貌分析（TEM）

透射电镜电子显微镜的一种，是一种高精密度的电子光学仪器，它具有较高分辨本领和放大倍数，是材料科学研究物质微观结构的重要工具，能提供极微细材料的组织结构、晶体结构和化学成分等方面的信息。

送样要求：

1. 样品必须很薄，一般厚度为100-200nm

2. 样品必须是固体，不能含有水分及挥发物

3. 样品有足够的强度和稳定性，样品及周围应非常清洁，以免污染

4. 请注明样品保存条件（常规、干燥、冷冻、冷藏、避光或其他）