红外 衍射 紫外 气质



decap 开封 开盖 开帽


200/颗

电子电器检测

激光开封机

芯片测试失效分析可靠性测试

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负责人: Sunny, 联系人: Sunny
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服务介绍:

decap 开封 开盖 开帽

主要用途 封装产品进行开封,使chip芯片裸露出来,方便后续分析(观察芯片表面、做EMMI、做去层、探针做电信号测量等)。 u 

性能参数 a)激光平均输出功率:10W b)激光波长:1060nm c)激光重复频率:20KHz-100KHz d)开封范围:100mm x 100mm e)开封深度:0.4mm f)重复精度:±0.003mm u 

应用范围 主要应用在铜绑定线,铝绑定线及COB等特殊类封装的开帽分析。

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