红外 衍射 紫外 气质



decap 开封 开盖 开帽


200/颗

电子电器检测

酸开封机

芯片测试失效分析可靠性测试

北京 海淀区 北京市海淀区软件软广场3a 100085
负责人: Sunny, 联系人: Sunny
电话: 13488683602, 手机:13488683602
传真: 01082825511-728, Email:360843328@qq.com


服务介绍:

主要用途 封装产品进行开封,使chip芯片裸露出来,方

便后续分析(观察芯片表面、做EMMI、做去层、探针做电信号测量等)。 u

性能参数 a)设定混酸(H2SO4:HNO3)比例范围:1:1-1:9 b)温度范围调节:25-250度 c)进酸量调节:1mL-6mL/Min d)刻蚀时间可调范围:10s-1800s e)配置了常见封装类型的夹具 u 

应用范围 主要应用在常规塑封器件的开帽分析包括铜线开封。

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