Probe Station

主要用途 通过微探针连接到芯片并引出所需信号，用于电学特性测试 u 性能参数 放大倍数50X，100X，200X，500X 8个探针座 带屏蔽箱 u 应用范围 微小连接点信号引出，用于失效分析失效确认，FIB电路修改后电学特性确认等。