首页
收藏本站
我要登录
我要注册
忘记密码
找实验室
找实验室
找服务
找设备
搜索
热门搜索:
红外
衍射
紫外
气质
首页
服务项目
实验室
设备预约
高温工作寿命实验
服务价格:
服务时间:
服务分类:
电子电器检测
所用仪器:
高温存储实验
依据标准号:
依据标准:
芯片测试失效分析可靠性测试
北京 海淀区 北京市海淀区软件软广场3a 100085
负责人: Sunny, 联系人: Sunny
电话:
13488683602,
手机:
13488683602
传真:
01082825511-728,
Email:
360843328@qq.com
咨询
签合同
服务介绍
成交记录
评价记录
咨询记录
服务介绍:
成交记录:
评价记录:
咨询记录:
相关服务
顺磁性物质进行定性定量测试 (常温)
北京北达燕园分析测试中心
导热率、导热系数
北京北达燕园分析测试中心
光学特性(发射光谱、吸收光谱、余辉曲线)
北京北达燕园分析测试中心
decap 开封 开盖 开帽
芯片测试失效分析可靠性测试
decap 开封 开盖 开帽
芯片测试失效分析可靠性测试
x-ray
芯片测试失效分析可靠性测试
SAT
芯片测试失效分析可靠性测试
EMMI
芯片测试失效分析可靠性测试
SEM
芯片测试失效分析可靠性测试
IV Carve
芯片测试失效分析可靠性测试